CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的主要用途有:
1:利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;
2:利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;
3:利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4:利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;
5:利用25mm厚 度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;
6:利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7:利用50、44和40mm三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
超聲波試塊就是一個已知尺寸和缺陷位置大小的校正參考物。
比如一個厚度100mm,缺陷距離表面90mm的試塊,超聲波探頭打上去以后所產(chǎn)生的回波應該在探傷儀上的100mm.90mm處有兩個回波,如果位置有偏差就說明超聲波探頭沒有校正好。
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試塊是超聲波探傷的重要設備之一。在脈沖反射法超聲波探傷過程中,是通過儀器熒光屏上反射回波的位置、高度、波形的靜態(tài)和動態(tài)特征變量來表征被檢材料或工件質(zhì)量的優(yōu)劣的。然而,這些變量與缺陷之間的聲學關系是十分復雜的,同時還存在著儀器和探頭、材料或工件材質(zhì)、糯合條件等多種影響因素。因此,不能單靠調(diào)節(jié)儀器上的有關旋鈕和簡單的計算結(jié)果來完成對缺陷的定性、定量和定位等任務。所以,采用將儀器檢出變量與已知的簡單形狀的人工反射體的相應位置的已知信號量進行比較的方法來進行評定。即利用這些人工反射體在熒光屏上的回波為尺度來衡量被檢材料或工件缺陷的反射回波,從而評價其質(zhì)量。我們把這些按照一定用途設計制造的、具有特定形狀的人工反射體,稱之為試塊.
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