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x射線發(fā)生裝置角度校準的光學新方法
目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術(shù)條件》等技術(shù)文件，具體方法是采用光學經(jīng)緯儀或多面棱體等進行測試，該測量方法實際應用中存在一定難度，其次測量間隔較大，不能很好反映真實的角度誤差規(guī)律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器，中能x射線發(fā)生裝置公司，設計了一種新的XRD的角度校準方法，它能夠自動快速地連續(xù)測量角度，取k=2時，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù)，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準的情況.
x射線發(fā)生裝置使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感、氣體電離，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，中能x射線發(fā)生裝置哪家好，織構(gòu)及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
x射線發(fā)生裝置用途
1、科學研究和發(fā)展材料，這項工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應用范圍從空間科學和科技到消費類產(chǎn)品。X射線衍射（XRD）是研究材料的主要技術(shù)，包括下列功能：相的識別和定量，相的結(jié)晶度判定，晶體結(jié)構(gòu)，中能x射線發(fā)生裝置，晶體取向和織構(gòu)，極圖等。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對各種樣品類型，從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料，中能x射線發(fā)生裝置多少錢，液體和半導體晶片。
2、地質(zhì)，礦產(chǎn)和在研究行星進程和地球構(gòu)造過程中，地理學家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。分析技術(shù)如：小點激發(fā)，分布分析和無標定量分析，日漸成為地質(zhì)研究及礦物學研究領域內(nèi)的主要儀器。
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第6年
